可靠性增長摸底試驗(yàn)技術(shù)是根據(jù)可靠性增長理論,利用可靠性試驗(yàn)的方法,結(jié)合國內(nèi)機(jī)載電子產(chǎn)品的可靠性善和型號研制特點(diǎn)為而提出的,可靠性增長摸底試驗(yàn)的目的包含以下兩點(diǎn):
由于機(jī)械產(chǎn)品的壽命大多呈威布爾分布,其故障多發(fā)區(qū)一般集中在耗損階段,因此對其安排可靠性增長摸底試驗(yàn)意義不大,電子產(chǎn)品壽命基本上服從指數(shù)分布,且試驗(yàn)環(huán)境易于模擬,試驗(yàn)結(jié)果具有一定的實(shí)際意義,而對于部分機(jī)電產(chǎn)品,其壽命也服從指數(shù)分布,如果試驗(yàn)條件允許,也可安排部分可靠性增長摸底試驗(yàn),因此,可靠性增長摸底試驗(yàn)的對象主要是電子及部分機(jī)電產(chǎn)品。
本文鏈接:http://hx-ts.com/article/hyzx/307